Broche Pogo de test de semi-conducteurs

Broche Pogo de test de semi-conducteurs

Une fois que la tranche de semi-conducteur a terminé le processus de fabrication, chaque puce doit être testée fonctionnellement, et les puces non qualifiées sont marquées pour éviter l'emballage à l'arrière. Ce type de test doit transmettre des signaux via une série de connexions, de la puce à travers le connecteur de test de sonde de la carte de sonde et la carte de circuit imprimé à la machine de test automatique, le connecteur de test de broche pogo (tour de sonde) est une partie vitale au milieu section, pour assurer une transmission de signal stable afin d'obtenir des résultats de test de puce précis et stables. À mesure que les puces deviennent plus sophistiquées et ont de plus en plus de fonctions, les exigences de test deviennent de plus en plus élevées. Les connecteurs de test pogo pin existants ne peuvent plus répondre au test des puces à fonctions multiples et sorties multiples.

Dans le même temps, les connecteurs de test de semi-conducteurs existants n'utilisent pas plus de 3 broches Pogo de test de semi-conducteurs000-, et le champ d'application est soumis à de nombreuses restrictions.

La technologie de base de la broche Pogo de test de ressort Semiconductor est la capacité de traitement et d'assemblage de précision, ce qui implique un équipement de traitement de précision, de l'expérience et une capacité de traitement.

Le ressort de la broche pogo de test est un facteur clé dans la durée de vie de la sonde de test. Le ressort galvanisé a une longue durée de vie, ne rouille pas et peut également améliorer la durabilité et la conductivité de la sonde de test.

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